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| 商品編號： | DCS0560 | |
| 商品名稱： | 藝術品檢測分析技術手冊:檢測技術界的昭祕之眼, 為藝術市場再填檢測之法 出版公司:崧博出版 作者:米爾科. 登萊烏 類型:藝術設計-文物收藏 EPUB電子書 繁體中文版 | | | 語系版本： | EPUB電子書 繁體中文版 | |
| 運行平台： | EPUB電子書,沒有任何平台限制,終身使用 | |
| 更新日期： | 2026-05-01 | |
| 光碟片數： | 1片CD光碟 | |
| 銷售價格： | $100元 | |
| 熱門標籤： | 檢測技術界的昭祕之眼
登萊烏
藝術設計
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藝術品檢測分析技術手冊:檢測技術界的昭祕之眼, 為藝術市場再填檢測之法 出版公司:崧博出版 作者:米爾科. 登萊烏 類型:藝術設計-文物收藏 EPUB電子書 繁體中文版
商品資料
作者：米爾科. 登萊烏
出版社：崧博出版
出版年：2023
課程類型：藝術設計>文物收藏
檔案格式：EPUB
書籍簡介
《藝術品檢測分析技術手冊：檢測技術界的昭祕之眼，為藝術市場再填檢測之法》是一本關於藝術品檢測分析技術的專業手冊。該書集結了眾多專家學者的研究成果，涵蓋了多種先進的檢測技術，旨在為藝術市場提供更全面、科學的資訊方法，保護藝術品的真實性與價值。
書中首先介紹了一系列光學和輻射類的資訊技術，包括紫外線、紅外線和X射線照相術等。這些技術可以幫助專業人士深入分析藝術品的材料組成、顏色和結構等特徵，從而確認作品的真實性和時代背景。
其次，本書還介紹了多種質譜法技術，如質譜法、氣相色譜-質譜法、雷射燒蝕電感耦合等離子體質譜法等。這些先進的分析方法可以幫助專家測定藝術品中微量元素的存在和比例，從而揭示作品的製作年代和來源。
除此之外，書中還涵蓋了其他一些特殊的資訊技術，如免疫試驗法、中子活化放射自顯影等，這些方法在一些特殊情況下也能提供寶貴的資訊。
整本手冊不僅介紹了這些資訊技術的原理和應用，還通過具體案例向讀者展示了這些技術在實際應用中的價值。對於藝術品市場的鑑定、拍賣和交易等方面，本書提供了全面而可靠的檢測方法，使藝術愛好者、專業人士和市場從業者都能更加準確地了解藝術品的真實性與價值。
本書特色：
《藝術品檢測分析技術手冊》是一本寶貴的專業參考資料，對於藝術品檢測領域的研究者、專家和學生來說，將是不可或缺的指南，幫助他們更深入地了解藝術品的檢測技術，提升專業水平，保護藝術品市場的發展與健康。
章節
編委與撰稿人序言前言晝光照相術紫外線（UV）照相術紅外線（IR）照相術紅外線反射成像（IRR）紅外線假彩色照相術（IRFC）紅外線透射照相術（IRT）紫外線誘導紅外線螢光成像光纖反射光譜法（FORS）X射線照相術K-edge成像同步輻射X射線螢光（sXRF）成像光學相干層析術（OCT）X射線吸收近邊結構譜法（XANES）掃描X射線粉末衍射（XRPD）差式掃描量熱法（DSC）中子活化放射自顯影（NAA）中子射線照相術（NR）中子成像（Nl）拉曼（Raman）光譜法傅立葉變換紅外線光譜法（FTIR）同步輻射傅立葉變換紅外線光譜法z（SR-FTIR）掃描電子顯微鏡（SEM）結合能量色散X射線光譜法（EDS/EDX）實驗室微X射線衍射（XRD）表面增強拉曼光譜法（SERS）宏觀X射線螢光成像（MA-XRF）便攜式X射線螢光（pXRF）斑點分析共聚焦X射線螢光法（cXRF）質子X射線螢光分析（PIXE）微取樣光學顯微鏡（OM）法原子力顯微鏡（AFM）法紫外線／可見光（UV/VIS）斷面顯微鏡法斷面染色試驗顯微分析免疫試驗法X射線光電子能譜法（XPS）二次離子質譜法（SIMS）氣相色譜-質譜法（GC-MS）裂解氣相色譜-質譜法（Py-GC/MS）電噴霧電離質譜法（ESI-MS）直接溫度質譜法（DTMS）熱重質譜法（TGMS/TGA-MS）雷射燒蝕電感耦合等離子體質譜法（LA-ICP-MS）基質輔助雷射解吸電離質譜法（MALDI MS）電化學分析法鉛同位素分析太赫茲（THz）光譜法與成像畫布經緯密度法放射性碳定年法14C核彈峰值放射性碳定年法樹木年代學法作者簡介譯者後記版權頁
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